臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

產(chǎn)品型號：

所屬分類：超聲波測厚儀

產(chǎn)品時間：2024-09-10

簡要描述：日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S
實現(xiàn)高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）
不易受溫度變化的影響
可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。
反射型允許從薄膜的一側(cè)進行測量
僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）

聯(lián)系我們在線咨詢

詳細說明：

日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

產(chǎn)品特點

實現(xiàn)高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）
不易受溫度變化的影響
可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。
反射型允許從薄膜的一側(cè)進行測量
僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）
模型飛行時間
測量方法非接觸式/光譜干涉式
測量對象電子和光學用透明平滑膜、多層膜
測量原理光譜干擾型
日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

模型	飛行時間
測量方法	非接觸式/光譜干涉式
測量對象	電子和光學用透明平滑膜、多層膜
測量原理	光譜干擾型

產(chǎn)品規(guī)格

測量厚度	1～50μm（薄材料）、10～150μm（厚材料）
測量長度	50-5000 毫米
測量間距	1 毫米 ~
最小顯示值	0.001微米
電源電壓	AC100 V 50/60 Hz
工作溫度限制	5～45℃（測量時溫度變化1℃以內(nèi)）
濕度	35-80%（無冷凝）
測量區(qū)域	φ0.6 毫米
測量間隙	約 30 毫米

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯數(shù)字），如：三加四=7

上一篇：軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2

下一篇：適用于鋼板和鋁板等的臺式測厚儀TOF-M

亚洲国产精品无码专区,潘金莲被武松高潮八次小说,chinese熟女老太hd,我和小娻孑在卧室做了

臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

產(chǎn)品特點

產(chǎn)品規(guī)格

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：