高頻加熱型TDS的特點

高頻加熱式升溫解吸分析儀IH-TDS1700是在超高真空下通過電磁感應加熱樣品，利用四極質譜儀（QMS）實時觀察樣品解吸分子的分析儀。由于超高真空，背景很低，可以進行高靈敏度測量。由于大氣和產生的氣體引起的副反應的影響被大大抑制，因此可以在理想條件下觀察樣品中的解吸分子。

對于加熱效率好的金屬樣品，可以加熱到1700℃以上。也可以測量鋼中擴散氫的低溫 TDS，它是鋼材的氫脆因子。

設備主體的控制由PLC（可編程邏輯控制器）自動進行，界面采用觸摸屏。

配備負載鎖定室

負載鎖定室對于高測量效率（高通量）和高靈敏度是不可少的。我們的負載鎖定室和樣品轉移機制只允許將樣品快速引入超高真空分析室。

如果沒有負載鎖定室，每次更換樣品時分析室都必須對大氣開放。一旦打開到大氣中，大量的大氣成分（尤其是水分）被吸附在分析室中，需要很長時間才能充分排出。

鋼中擴散氫的低溫 TDS 測量

由于可以測量冷卻后的鋼試片，因此可以高精度地量化，而不會泄漏具有大氫擴散系數的 BCC 鋼的擴散氫。

冰霜附著在冷卻的鋼試樣上，這種冰霜的解吸會影響氫信號并導致擴散氫量出現(xiàn)誤差（增加不確定性）。IH-TDS1700 冷阱（可選）可以捕獲霜，以最大限度地減少霜的影響并獲得扭曲的擴散氫解吸光譜。

解吸氣體的量化

數據處理程序可以量化解吸的氣體。有必要定期校準質譜儀的靈敏度以量化解吸氣體。

使用標準漏孔進行靈敏度校準需要與氣體類型相同數量的昂貴標準漏孔，并且校準工作非常耗時。此外，在使用標準泄漏有毒氣體時，安全和健康管理變得更加嚴格。

目前的量化程序可以比標準泄漏校準方法更快速、更輕松、更安全地量化解吸氣體。只需定期測量我們的 NIST 可追溯氫標準樣品，即可獲得高度準確的結果。經證實，我公司開發(fā)的靈敏度校正方法即使在氫氣以外的氣體中也能校正靈敏度，與基于AIST（AIST）國標標準漏孔校準的定量結果吻合較好。 .